[新品] 雷达物位计(MD30K-D/M)

雷达物位计MD30K系列

MD30K-D导波雷达物位计

● 原  理

导波雷达发出的高频微波脉冲沿着探测组件（钢缆或钢棒）传播，遇到被测介质，由于介电常数突变，引起反射，一部分脉冲能量被反射回来。发射脉冲与反射脉冲的时间间隔与被测介质的距离成正比。

应      用：控制测量级，液体及固体测量，

               复杂过程条件

***大量程：缆 30m/棒 6m

测量精度：±15mm

过程连接：法兰、螺纹

控测组件材料：不锈钢316L

过程温度：-40…150℃

信号输出：两线制/四线制 4…20mA/HART

测量范围：6m（标配，可定制）

● 特  点

由于采用了先进的微处理器和独特的EchoDiscovery回波处理技术，导波雷达物位计可以应用于各种复杂工况。

多种过程连接方式及探测组件的型式，使得导波雷达物位计适于各种复杂工况及应用场合。如：高温、高压及小介电常数介质等。

采用脉冲工作方式，导波雷达物位计发射功率极低，可安装于各种金属、非金属容器内，对人体及环境均无伤害。

 MD30K-M脉冲型雷达物位计

● 原  理

雷达物位计天线发射极窄的微波脉冲，这个脉冲以光速在空间传播，碰到被测介质表面，其部分能量被反射回来，被同一天线接收。发射脉冲与接收脉冲的时间间隔与天线到被测介质表面的距离成正比。由于电磁波的传播速度极高，发射脉冲与接收脉冲的时间间隔很小（纳秒量级）很难确认。雷达物位计采用一种特殊的相关解调技术，可以准确识别发射脉冲与接收脉冲的时间间隔，从而进一步计算出天线到被测介质表面的距离。

应      用：控制测量级,存储容器或过

               程容器，过程条件复杂

***大量程：30m

测量精度：±10mm

过程连接：法兰316L

天线材料：不锈钢316L/PTFE

过程温度：-40…200℃

频率范围：26GHZ

信号输出：两线制/四线制4…20mA/HART

● 特  点

由于采用了先进的微处理器和独特的EchoDiscovery回波处理技术，导波雷达物位计可以应用于各种复杂工况。其中雷达物位计采用了高达26G的发射频率，相对于6.3G的雷达具有更小发射角，更高精度。

“虚假回波学习”功能使得仪表在多个虚假回波的工况下，可正确地确认真实回波，获得准确的测量结果。

多种过程连接方式及探测组件的型式，使得导波雷达物位计适于各种复杂工况及应用场合。如：高温、高压及小介电常数介质等。

采用脉冲工作方式，导波雷达物位计发射功率极低，可安装于各种金属、非金属容器内，对人体及环境均无伤害。