镀层测厚仪(iEDX-160T)

1.  X射线管：高稳定性X射线管

微焦点x射线管

铍窗口， 光斑尺寸75um，油绝缘，气冷式，辐射安全电子管屏蔽。

50kV，1mA。高压和管流设定为应用程序提供***佳性能。

2.  探测器：SDD/SI-PIN探测器

能量分辨率：125±5eV/149eV

3.  滤光片/可选

初级滤光片：Al滤光片，自动切换

7个准直器：0.1mm、 0.2mm、 0.4mm、0.5mm、1mm、4mm（可选）

4.  平台：软件程序控制步进式电机驱动X-Y-Z轴移动大样品平台。
激光定位、简易荷载***大负载量为10公斤
软件控制程序进行持续性自动测量

5.  样品定位：显示屏上显示样品锁定、简易荷载、激光定位及拍照功能

6. 分析谱线：

- 2048通道逐次近似计算法ADC（模拟数字转换）

- 基点改正（基线本底校正）

- 密度校正

- Multi-Ray软件包含元素ROI及测量读数自动显示

7．视频系统：高分辨率CCD摄像头、彩色视频系统

- 观察范围：3mm x 3mm

- 放大倍数：40X

- 射线方向：上照式

- 软件控制取得高真图像

8. 检测厚度（正常指标）：

- 原子序数 22 - 24 : 6 ～ 1000 微英寸

- 原子序数 25 - 40 : 4 ～ 1200 微英寸

- 原子序数 41 - 51 : 6 ～ 3000 微英寸

- 原子序数 52 - 82 : 2 ～ 500 微英寸

9. 计算机、打印机（赠送）

1） 含计算机、显示器、打印机、键盘、鼠标

2） 含Windows 7操作系统

3） Multi-Ray软件